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半导体芯片frame检查仪-创新是改变的一步[东虹鑫]

来源 : 作者 : dohone 人气 : 729 发表时间:

只有不断的创新才会有更好的发展,电子半导体芯片frame封测测试专业检测仪在之前的使用过程中有效规避了产品的品质风险,得到非常良好的效果,并且大大的提升了客户的生产效率。东虹鑫非常自信的相信我们的frame检查仪帮助很多的半导体行业的用户,快速的提升产品的检测效率以及品质。

那在最近,此处应有掌声,东虹鑫的电子半导体芯片frame封测测试专业检测仪经过了技术研发人员进一步的创新,检测过程人手“0”接触芯片,解决芯片在检测过程中的容易出现变形,磁伤,撞伤等问题,从而让产品良率提升98.8%,生产效率提高20%。还可以根据客户的要求定制不同规格的检测设备。

东虹鑫产品不仅要追求高品质,精益求精,还要对原来的产品进行改造创新,从而达到更好的使用效果。

东虹鑫以“为客户创造有价值的产品及服务”为宗旨,以高品质产品、完善的售后服务、优惠的价格,真诚为广大客户服务!欢迎新老客户前来咨询洽谈合作!


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